美（měi）國俄亥俄州克（kè）裏夫蘭市近日報導??吉時（shí）利 (Keithley) 儀器公司 (NYSE: KEI) 是為不斷增長的測量需求提（tí）供解決（jué）方（fāng）案的領導者，宣布在4200型（xíng）半導體特性分析係統中新增加了脈衝信號發生和測（cè）量功能，支持脈衝式的半導體特性分析功能（néng）。新的PIV（脈衝I-V）子係統，更便於進行高介電（High－k）材料（liào）、熱敏感器件和先進存儲（chǔ）芯片等的前沿（yán）技術研究，使其測量更加準確，產品投入市場更（gèng）加快速。這是（shì）第一款商用化的集成（chéng）了精確、可重複的（de）脈衝和DC測量於一體的解決方案，而且使用非常方便。 脈衝I-V （簡稱PIV）子係統是吉時（shí）利公司Model 4200-SCS係統的一個新增選項。Model 4200-SCS係統適用於實驗室級（jí）別的精準DC特性測量和分析，具有亞飛安級的微電（diàn）流分辨率和實時繪圖、數據分析和處理能力。該係統集成了目前最先進的半導（dǎo）體特性分析性能，包括（kuò）一台帶有Windows XP操作係（xì）統和大容（róng）量（liàng）存儲器的（de）嵌入（rù）式PC機。 Model 4200-SCS PIV子係統（tǒng）有著廣（guǎng）泛的用（yòng）途（tú）。它是唯一一種適合解決高（gāo）介電High-k介質（zhì）的集成電路(例（lì）如界麵態)和65nm及更（gèng）小尺寸工藝的新（xīn）器件熱特性(例如SOI和FinFET器件)的（de）問（wèn）題的工具（jù）。其他的應用包括電（diàn）荷泵（Charge Pumping），AC stress失效機理的（de）測試（shì）和其他的脈衝和時鍾方麵的應用。 Model 4200-SCS PIV子係統對於在半導體TD（Technology Development）、PD（Product Development）和可靠性實驗室，以及材料和器件研究實驗室中的工程師和管理者來說是非常理想的選擇。包含了樣例測試方（fāng）案可使學（xué）習曲線變短，從而提高生產能力，直觀易用的軟件使得測（cè）試和特性表征（zhēng）更加快速，從而提高（gāo）產能。因而，任意一個需要（yào）在實驗台上進（jìn）行DC和脈衝測試（shì）的半導體實驗室都將從Model 4200-SCS PIV子係統中受益（yì）。