2020年（nián）第二屆（jiè）中國（上海）國際計量測試（shì）技術與設備博覽（lǎn）會（huì）終於揭開了它神秘的麵紗，28日（rì）上午，隆重的開（kāi）幕式正式舉行，計量行業一年一（yī）度的盛會正式召開。小編（biān）下（xià）麵為您獻上現場的照片。

國家市場（chǎng）監督（dū）管理局計量司鄭華欣處長致辭。

上海市市場監督管理局徐徠（lái）副局（jú）長致辭。

上海市計量協會鄭光輝會長（zhǎng）主持。

開幕（mù）式現場火爆場麵。

開幕式嘉賓。

正式啟動！

開幕嘉賓合影。

開幕式（shì）後，參會領（lǐng）導與多家參展商進行了交流。

28日下午，還進行（háng）了國際計量測試技術論壇（tán）。

文：沈宏申 圖：王立憲、陸蓮明、高登公司  審核：陳明（míng）娣