10月22日-23日，由中國計量測試學會、全（quán）國顯（xiǎn）示產業（yè）計量測試聯盟聯（lián）合主辦，中國（guó）計（jì）量科學研究院承辦，國家平板顯示產業計量測試中心(廈門、蘇州)、華東電子測量儀器研究所光電計量校準中心協辦的“第四（sì）屆國際顯示產業計量測試高峰論壇暨中國計量（liàng）測試學會2019年全國顯示產業計量測試聯盟”順利在（zài）京召開。來自國內外顯（xiǎn）示相關的計量技術機構、高校、科研院所及生產企業、知名儀器設備廠家的近200位代（dài）表（biǎo）參加（jiā）了此次高峰論壇。

論壇由（yóu）全國（guó）顯示產業計量測試聯（lián）盟陳（chén）赤秘書長主持，中（zhōng）國計（jì）量測試學會（huì）蒲長城理（lǐ）事（shì）長、國家市場監督管理總局杜躍軍副司長、中國工程院許祖彥院士、譚久彬院士、李天初院士、中國計量科學研究院滕俊恒副院（yuàn）長等領導和專（zhuān）家出席。中國計量測試學會蒲長城理事長（zhǎng）在致辭中指出顯示產業發展需同仁攜手打造開放共享的產學研用多維度合作（zuò）平台和產業協同創新共同體（tǐ），激發顯示（shì）產業創（chuàng）新活力。

本次論（lùn）壇以“顯乎其微，示（shì）乎其大”為主題，圍繞顯示企業（yè）創新與轉型、產學（xué）研用深度融合（hé）和（hé）顯（xiǎn）示產業前瞻（zhān）技術和未來發展趨勢展開百家（jiā）爭鳴。譚久彬院士做了（le）“新一（yī）代國家測量體係與製造質量提升”的大會特邀（yāo）報告;近三十位來自國內外（wài）的顯（xiǎn）示專家學者和產（chǎn）業代表就顯示標準、新型（xíng）顯示器件領域關鍵參數測試方法、顯示與視覺、醫療健康和芯片等交叉（chā）融合等分別做了主題報告。同（tóng）時各專家學者（zhě）就Mura算（suàn）法與DeMura等應用進行了專題高峰圓桌（zhuō）對話，深入交流和探討（tǎo）了Mura算（suàn）法與（yǔ）Demura技術發展（zhǎn）。論壇還發布了“手機、顯示屏關鍵參數測試評價方（fāng）案及評價結果”，對消費者如何科學使用顯示產品、減小顯示（shì）屏藍光危害有（yǒu）重要指導意義。

本次論壇得到了各界（jiè）的廣泛關注和支持。同期，全國顯示產業計量測試聯盟舉行了（le）院士等專家顧問受聘儀式;舉辦了“第四屆顯示產（chǎn）業計量與檢測設備精品展”，顯示相關企事業單位進行了黑科技新產品和新技術展（zhǎn）示，是顯示行業思想碰（pèng）撞和（hé）視覺體驗的盛宴（yàn）。

本（běn）次論壇為國內外顯示相關產業搭建了良好的合作交流平台，有利於促進顯（xiǎn）示產業高質量發展。據悉（xī），全國顯示產業計量測試聯盟已發展為由來自顯示（shì）企業、高校（xiào）、科研院所、計量機（jī）構、設備廠商等產業內（nèi）80多家單位組成的產業協同創新共同體（tǐ）。