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美國熱(rè)電發布X係(xì)列Ⅱ代ICP-MS (2005-01-27)

發布時間:2007-12-04 作者: 來(lái)源(yuán):儀器信息網 瀏覽:1027
來自美國熱電集團的消息:該公司將在匈牙利布達佩斯召開的“European Winter Plasma Conference 2005(1月30日~2月3日)”上首次展示該公司X係列Ⅱ代ICP-MS。 XⅡ采用了(le)全新的離子(zǐ)提取係統,從而獲得了四(sì)極杆ICP-MS技術更低的檢出限(xiàn)。同時,XⅡ另一個創新點是它的(de)離子光學設計,具有保護離子提取功能。這一設計極大降低(dī)了空白背景,再加上熱電公(gōng)司的第三代離子碰撞池技術,使得該型儀(yí)器的幹擾消除能力得到了進一步提高。 據熱電集團相關人士介紹:XⅡ的錐形接口既保(bǎo)持了XⅠ在分析方麵的優勢傳統,同時又改善對基(jī)體效應(yīng)的容許能力,降低(dī)了用戶對儀(yí)器維護的要求(qiú),開創性的接口設計同離子光學設計使得用戶無需在高(gāo)真空環境(jìng)下清洗和更換部件。
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