在現行(háng)的《千分(fèn)尺》檢定規程中(JJG21-1995),(0~100)mm的1級千分尺的示值誤差要求為±4μm,如果超出此範圍(wéi),就要對千分尺進行修(xiū)理(lǐ)。如果在確定千分(fèn)尺的平麵度、平行度、測杆的(de)徑向擺動和軸向竄動等都符合規定要求後,示值仍(réng)超差,則可確(què)定是由測微螺杆的磨損所引起,那麽就要對測微螺杆(gǎn)進行研磨。許多計量人員把工作麵磨得光亮,可一檢定示值仍(réng)超差,這到底是什麽(me)原因呢?現(xiàn)對一千分尺的示值誤差進(jìn)行檢定,檢定結果一般有以下三種(zhǒng)情況:
一、各(gè)受檢點示值誤差均為負值(見表1)
這說明除了零位以外的各點都有(yǒu)不同程度的磨損,而零位處磨(mó)損較少,那麽就要對零位所對應的測微螺杆工作(zuò)麵進行研磨。這種情況(kuàng)在(0~25)mm的千分尺中比較常見。從表中可知,最大磨(mó)損為7μm,超出要求3μm,那麽在零位處研磨3μm後所檢定的(de)結果符合檢定(dìng)規程的要求。
二、各受檢(jiǎn)點示值誤(wù)差均為正值(zhí)(見表2)
這說明各受檢點所對應的測微螺杆工作(zuò)麵磨損(sǔn)量比零位所對應的工作麵磨損量要少,那麽就要對各受檢點所對應的工作(zuò)麵進行研磨,誤差最大的部(bù)位要多研磨。直到檢定結果符合檢定規(guī)程的要求。
三、各受檢點的(de)示值誤差正負(fù)超差都存在(見表3)
此種情況(kuàng)較(jiào)為複雜。對這種千分尺的研磨須分兩步:首先(xiān)要確定對負值超差的最大部位進行研磨,研磨到檢定規程允許(xǔ)的範圍內;然後再重新檢定各受檢點的示值誤差,這時可發現各受(shòu)檢點的示值誤差都趨向於正值,那麽可根據第二種情況進行研磨,直到檢定結果符(fú)合檢定規程要求範圍之內。
從幾個表格可以看出(chū),確定千分尺研磨部位的(de)基本方法(fǎ),可以概括為:正值研本處,負值研(yán)零(líng)位。即當示值誤差為(wéi)正值超差時,就在該(gāi)正值誤差所對應的測微螺杆工作麵處進行(háng)研磨。當示值誤(wù)差為負值超差(chà)時(shí),應研磨零位所對應的測微螺杆工作麵,而不(bú)能研磨該負值所對應的測微螺杆工作麵,否則越研磨千分尺的(de)示值誤差越大。而千分尺(chǐ)研磨量的確定,須靠平時在工作中逐漸摸(mō)索,逐(zhú)漸掌握。
注:表1、表2、表3中A均為千分尺的測量下限