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安捷倫和康思德聯手研發晶片級測量解(jiě)決方案

發布時間:2014-06-30 作者: 來源:科技日報 瀏(liú)覽(lǎn):1940
      安捷倫科技公司(sī)和康思德精密科技(jì)有限(xiàn)公司(sī)日前宣(xuān)布雙方結成戰略合(hé)作關(guān)係,旨在為客戶(hù)提供經過全麵配置和驗證的射頻測量解決方案,該解決方案不僅能夠(gòu)簡化晶片級半導體測量,而(ér)且還能(néng)提供有保障的配置、安裝及支持。
      據介紹,最新的晶片級測量解決方案(àn)整合了康思德的晶圓(yuán)探針台、探針和校準工具以(yǐ)及安捷倫測試儀(yí)器和測量分析軟件,將會(huì)為半導體測試帶來深遠影響。每種解決方案配置在出廠前均已通過預先驗證,以滿足客戶的特定應用需求,在康思德解決方案專家安裝完畢後,可根據之前(qián)商定的驗收標(biāo)準再次驗證配置。安捷倫或康思德承諾免費填補解決方(fāng)案缺失的任何部件,以確保客戶享受有保障的配置。另外,每個(gè)晶片級測量解決方案(àn)均配(pèi)有完善的支持套件,並(bìng)且允(yǔn)許客戶聯係經驗豐富的區(qū)域解決方案專家以索取晶圓上測試測量技巧。
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