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NI發布“2009年自動化測試(shì)領域的發展趨勢”

發布(bù)時間:2009-08-26 作者: 來源: 瀏覽:859

      30多年來,作為測試測量行業的創(chuàng)新者和虛擬儀器技術的領導者,National Instruments一直致力於為工程師和科學家(jiā)們提供一個(gè)通用的軟硬件平台,用於科(kē)技應用和工(gōng)程創新。伴隨著測試需求的多樣化和複雜化,這種以軟件為核心的測試策略正逐漸成為行業主流的技術,並得到廣泛的應用,在提高效率(lǜ)的(de)同(tóng)時降低測試成本。在新興(xìng)商業技術不斷湧現的今天(tiān)和未來,測試測量行業正呈現出五個重要的發展(zhǎn)方向。

趨勢一:軟件定義的(de)儀器(qì)係統成為主流

      如今(jīn)的電子產品(像iphoness和Wii等(děng))已越來(lái)越依重於軟件(jiàn)去定義產品(pǐn)的功能。同樣的,在產品設計和客戶需求日益複雜(zá)的今天(tiān),用於測試(shì)測量的儀器係統也朝著以軟(ruǎn)件為核心的模塊化方向發展,使(shǐ)得用戶能夠更快更靈活的將測試集成到設計過程中去,進一步減少(shǎo)了開發(fā)時間。

趨勢二:多(duō)核/並行測試帶來機遇和挑戰

      多核時代的來臨(lín)已成為不(bú)可避免的發展趨勢,雙核乃至八核的商用PC現在已隨處可見。得益於PC架構的軟件定義的儀器,用戶可以在第(dì)一時間享受到多核處理器為(wéi)自動(dòng)化測試應(yīng)用帶來的巨大性能提升。

趨勢三:基(jī)於(yú)FPGA的(de)自定義儀器將更為流行

      隨著設計和測試(shì)的要求越來(lái)越高,FPGA(現場可(kě)編程門陣列)技術(shù)正逐漸被引入到最新的模塊化儀器中,這也就是我們所說的基於FPGA的自定(dìng)義儀器。

趨勢四:無線標準測試的爆炸性增長

      近年來無線通(tōng)信標準的發展可謂是(shì)日(rì)新月異,從2000年前隻有四五種的無線標準到現在眾多(duō)新標準如雨(yǔ)後春筍般湧現(xiàn)。越來越多的消費(fèi)電子產品和工業產品都或多或少的集成了無線通信的功能,像蘋果公司最新的3G版iphoness手機,更是同時集成了UMTS, HSDPA, GSM, EDGE, Wi-Fi, GPS和藍牙等多種最新的無線標準。這些都給無線技(jì)術的開發和測(cè)試帶來了(le)巨大的挑戰,測試技術如何跟上無線技術的發(fā)展(zhǎn)成為工程師麵臨的最大難(nán)題。通(tōng)常傳統射頻儀器的購買周期是5至(zhì)7年(nián),而新標準和(hé)新(xīn)技(jì)術的推出周期卻是每兩(liǎng)年一輪,購買的射頻測試設(shè)備由於其固件和功能的限定通常難以跟上新標準的發展速度。

趨勢五:協議感(gǎn)知(Protocol-Aware)ATE將影響(xiǎng)半導體的測試

      如今的半導體器件變得愈加的複(fù)雜,高級的片上(shàng)係統(SoC)和封裝係統(SiP)相(xiàng)比典型的(de)基(jī)於矢量的器件測試而言,需要更(gèng)為複(fù)雜的係統級的功能測試(shì)。現在器件的功能也不再是(shì)通過簡單的並(bìng)行(háng)數(shù)字接口實現(xiàn),而是更多的依賴於高速串行總線和無線協議進行輸出,這就要求測試設備和器件之間能夠在指定的時鍾周期內(nèi)完成高速的激勵和響應測試。

 
 

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