美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）於4月在上海國際會議中心成功主辦第二屆“設計、驗（yàn）證及測（cè）試論壇” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005），今年的（de）主（zhǔ）題為（wéi）“測試緊跟設計的步（bù）伐”。本屆論壇總（zǒng）共吸引了逾500位工程師、技術人員和（hé）院校教師（shī）參與此次（cì）盛會，其中97.1%的來賓表示“此次活動對（duì）他們的工作有所幫助”，70%將會推薦（jiàn）他們的同事參加明年的“設計、驗證及測試論壇”。在此次論壇期間，NI提出了若幹驅動虛擬儀器技術發展的主導商（shāng）業技術，並著重強調了PCI Express 和FPGA這兩項。 2004年第一屆DVTF由NI和泰克電子（Tektronix）強強聯手，延承（chéng）其成功之勢（shì），除了泰克電子以外（wài），今年NI還（hái）邀請了英特爾（Intel）、科梁科技（AEETEK）、Quanser、CyboSoft（博軟科技）、泛華測控和聚星儀器等行業內外相關領（lǐng）域的多（duō）家優秀企業共同參與。 此（cǐ）次論壇分為（wéi）熱點技術專題與實時應用專題同時進行。NI主持了“利用新興的PAC技術解決工業控製麵臨的挑戰”、“用（yòng）LabVIEW開發實時係統應用”等5場專題研討會，Intel 以及其他公司也提（tí）供（gòng）了“Embedded Market Solutions - PCI Express Technology”、“采（cǎi）用高速數字示波器進行 PCI Express分析和一致性測試”等講座。此（cǐ）外，每家參展廠商都有各自的展示區域，可以與參觀者麵對（duì）麵地交流。 前（qián）來參加會議的來（lái）賓們也表（biǎo）示本次論壇“務實求新，提供了（le）新思想、新方路、新手段（duàn）、新工藝”，“與各大廠商直接接觸，了解到測試及控製領域最新的技術及發展（zhǎn）趨勢（shì）”。 基（jī）於（yú）兩屆活動的成功經驗，NI會在明年繼續舉辦第三屆“設計、驗（yàn）證及測試論壇”，並有信心將其打造成（chéng）測試測量行業內首（shǒu）屈一指的多供應商技術論壇。