近日，由中國科（kē）學技術大學與我院共同完成（chéng）的“掃描探針顯微鏡漂（piāo）移（yí）測量（liàng）方法與標準化”課題，榮（róng）獲2014年中（zhōng）國分析測試協會（huì）科學技術獎（CAIA獎）。

      CAIA獎是分析測試領域（yù）唯一的社會（huì）力量（liàng）設獎，獲獎成果反映了國內分析測試領（lǐng）域的最高水平，對加強分析測試領（lǐng）域和相關學科的基（jī）礎（chǔ）性和應（yīng）用性研究、提升我國分析測試與科研探索的創新能（néng）力和學術水平做出了重要貢獻。

      “掃描探針顯（xiǎn）微鏡漂移（yí）測量方法與標準化”研究定（dìng）義了描述SPM在（zài）X、Y和Z方向的漂移速率的專業術語，規定了SPM漂移速（sù）率的測量方法和測量程序，不僅為基於SPM測量（liàng）圖像（xiàng）的漂移速率提供了標準的評價方法，也對其它納米級測量儀器穩定性的評（píng）價也有著重要參（cān）考價值。