日前，上海市（shì）計（jì）量測試技術研究院材質中心承擔的上海市科委標準專項《微納功能（néng）器件表麵（miàn）微區測（cè）量（liàng）和粒度分析方法研究及其相關國家（jiā）標準的（de）製（zhì）訂》（11dz0502100）通過了項目驗收。
　　
　　隨著我國（guó）新材料研（yán）發產（chǎn）業和先進製造業的快速發展，納（nà）米功能器件已廣泛應用於太陽能電池、集成（chéng）電路、LED光電材料和（hé）高性能信息存（cún）儲器等（děng）領域，微納米功能器件事業日新月異。我國（guó）在納米功能器件領域的（de）研究具有一定的發展優勢和（hé）規模，因此開展納米器件（jiàn）標準測量方法研究十分（fèn）迫（pò）切。
　　
　　本項目通過對微納功能器件測量（liàng）方法研究，完成了《表麵化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率測定》和《粒度分析單顆粒的光學測量方法（fǎ）第2部分液體顆粒計數器光散射法》2項國家標準的編寫，現正報批。如果該2項國（guó）家標準順利頒布（bù）實施（shī），將（jiāng）為俄歇電子能譜、X射線光電子能譜和液體顆粒計數器等納（nà）米（mǐ）檢測儀器（qì）提供統一（yī）的標準測量方法，有效地保證（zhèng）各單位（wèi）間測量結果的準確性、可比性，能夠對獲（huò）得更為精確的納米器件測量表征結果提供技術支持（chí），保障我（wǒ）國（guó）納米功能器件等（děng）新材料產業（yè）的快速（sù）發展。