近日，中國航天二院（yuàn）203所（suǒ）成功研製出多通道頻標比（bǐ）對裝置，解決了高指標原子頻標產品的測試（shì）問（wèn）題。業內人士指出，該裝置在性能上已經達（dá）國際同類產品（pǐn）水平，填補國內同類測試設備空白。

      該裝置主要用於高指標原（yuán）子頻標頻（pín）率穩定（dìng）特（tè）性測試，晶體頻標（biāo）、電子儀器設（shè）備中的晶體振蕩器、頻率合成（chéng）器等頻率源之間頻率穩定特性測試，以及放大器、倍頻器等二端口部件的附加頻率不穩定性測試，具有技（jì）術指標（biāo）高、技（jì）術方（fāng）案先進、方便易用、多通道、可維修性高（gāo）、可擴展性（xìng）強等優點（diǎn），能夠滿足高指標頻率穩定度的測試需求，應用前景廣闊。

      據悉，該裝置還在（zài）為北鬥二代二期心髒星載銣鍾進（jìn）行可靠性和穩定性測試中發揮了舉足輕重的作用。