近日，天津檢驗檢疫局研製的“納米尺度測量標準器”獲得國家實用新型專利授權。該項目采用國際先進的聚焦離子（zǐ）束刻蝕技術，具有分辨（biàn）率高、線距均勻、材（cái）料穩定、設計獨特（tè）等特點，可以滿足不同形狀樣品的比對測量需求，有效解決了納（nà）米尺度更準確的測量問題，填補（bǔ）了納米材料領域標準器（qì）國內空白，達（dá）到國際先進水平。

      隨著納米科技飛速發展，用於（yú）測量納米尺度的高分辨率測量器具一直是人（rén）們所關注的（de）課題，為了得到更準確（què）的測量結果，需要有一個更接近於樣品（pǐn）尺度的標準物質（zhì）??納米標準器。

      天（tiān）津局課題組經過兩年的刻苦鑽研，通過精選納米標準器材質，采用先進的聚焦（jiāo）離子（zǐ）束刻蝕技術，研製成功一種（zhǒng）新型的用於掃描電鏡納米尺度（dù）測量的納米標準器。該納米標準器（qì）分辨（biàn）率高，具有78納米的標準周期線距，遠小於目前公認的S1000標準器的（de）線距1000納米（mǐ）（1微米（mǐ）），是真正意義上的納米級標（biāo）準器，並（bìng）且保證每個刻（kè）度周期線距的均勻性和（hé）一致性，可使得（dé）最小線（xiàn）距整數倍的距離都可以作為（wéi）標準（zhǔn）長度來比對，材料膨脹係數低、性能穩定，設計將橫線、豎線、點陣（zhèn）和（hé）圓環形狀的標（biāo）準刻度融於一體，可以滿足不同形狀樣（yàng）品的（de）比對測量需求。