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二(èr)維X射線探測器的研製項目通過驗收

發布時間:2012-06-15 作者(zhě): 來源(yuán): 瀏覽(lǎn):313307

  6月7日,中國(guó)科學院計劃(huá)財(cái)務局組織專家對高能物理研究所承擔的院重大科研(yán)裝備研製項目(mù)“二維X射線探測器的研製”進行了現場驗收。

  二維X射線探測設(shè)備采(cǎi)用200mm×200mm氣體電子倍(bèi)增器膜(GEM)為主(zhǔ)要探測部件(jiàn),項目組經過多年潛心(xīn)研究,開發了相關探測器的製作工藝,解決了電極結構設計的關鍵技術問題,研製了多路(lù)快讀出前(qián)端電子學及高(gāo)速數據獲取(qǔ)係統(tǒng)。

  該設備的特(tè)點是:有效探測麵積大、位置分辨好、計數(shù)率(lǜ)高,具有同步(bù)輻(fú)射晶體衍射和二維成像功能,現已在北京(jīng)同步輻射大分子(zǐ)實驗站進行了晶(jīng)體(tǐ)衍射實驗,實現了X射線的(de)高計數率、高分辨(biàn)率探測(cè),可以滿足同步輻射的使用需求,有望在X射線衍射、小角散射和(hé)成像等方麵開展廣泛的應用研究。

  驗收專家(jiā)組聽取了項目負責人(rén)陳(chén)元柏的研製工作和使(shǐ)用報告、財務報(bào)告及測試專家(jiā)組的測試報告,現場核查了研製設備的運行情(qíng)況,審核了(le)相關的文件檔案(àn)及財務賬目。專家(jiā)組對該項目(mù)研(yán)製做出了高度評價,認(rèn)為各項(xiàng)技術指標達到或優於實施方案規定的(de)要求,實現了X射線探測的二維精確定位,填補了國內高計數(shù)率(lǜ)X射線氣體成像探測器的技術(shù)空白;技術(shù)檔案齊全,經費使(shǐ)用合理(lǐ),單位自籌資金(jīn)到位(wèi),一致同意通(tōng)過驗收(shōu)。鑒於該成(chéng)果具有廣闊的應用前景,專(zhuān)家組建議該(gāi)項目的(de)研究特別是小型化研(yán)究要(yào)不停頓地進行下去,促進(jìn)項目成果的應用和推廣。

 

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