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美科學家利用(yòng)納米裝備(bèi)技術生產出強聚焦軟X光 (2005-08-01)

發布時間:2007-12-04 作者: 來源: 瀏覽:789
隨著納米科學和納米技術(shù)的進步,人們已經不滿足於掃描物體表麵,而(ér)是把目光投向探究生物有機體的內部深(shēn)層結構和物(wù)質的結構,從而得以分析出其組成成分(fèn)?同時,也促進了電子學(xué)、電磁(cí)學、光學和化學等學科的(de)進步。 為了測量形態、構成、磁力、偏(piān)振或化學成分等方麵納(nà)米層次的內部變化,X光顯微鏡不僅可以補充電子顯微鏡的不足(zú),而且具有更多(duō)的優勢。位於美國能源部勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗室(shì)高級光源的XM-1型(xíng)X光顯微鏡(jìng),使用明亮的(de)光束一“軟”X光製得的圖像不僅顯示出了結(jié)構,而且可以分析鑒(jiàn)定出它們的化學元素,並同時測量它們的電磁特性和(hé)其他性質。 現在一種新型的在納(nà)米層級上創造光學設備的方法使得伯克利實驗室X光光學(xué)中心(CXRO)的研究人(rén)員(yuán)可以建造和操作XM-1型X光顯微鏡來獲得超高分辨率的圖像,甚至可以超過15納米的精度,同時研究人員在近期之內可以取得更高分辨率(lǜ),伯克利實驗室材料科學小組的晁偉倫(音譯)說,我們的(de)這項(xiàng)新(xīn)技術使得超小三維結構的裝配成(chéng)為可能。我們相信這是通過(guò)電子束平版印刷術實現微(wēi)型裝配技術上一大突破。
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