美國橡樹山國家實（shí）驗室的科研（yán）人員（yuán）最近成功刷新了（le）一（yī）項電子（zǐ）顯微鏡（jìng）的觀測記錄。這種新型（xíng）電子顯微鏡的功率為300千瓦，能夠分辨出直徑為0.6埃(光譜線波長單位，等於一（yī）厘米的百萬分之（zhī）一)的（de）微小粒子－－足以讓科學（xué）家們看到單個的原子。借助它的幫助，物理學家們成功地獲得了矽晶體中的單個原子（zǐ）圖（tú）像。 　　研究人員介紹（shào）稱，新型顯微鏡（jìng）能夠極大地改善半導體領域的研究條件，推動新（xīn）材（cái）料（liào）的開發工作。據悉，取得這一重要成果（guǒ）的主要秘密在於一項新開發出的計算（suàn）機成像技術（shù），它能（néng）夠最大限度地挖掘高倍數電子顯微鏡（jìng）的潛能。 　　這一新方法被暫時稱作偏差修正技術。借助這一技術，計算機能夠及時地對電（diàn）子顯（xiǎn）微鏡的透鏡所產生（shēng）的誤差進行修正，從而保（bǎo）障獲得質量更高的物（wù）質內部結構圖像。研究人（rén）員因此也突破了（le）先前的（de）觀（guān）測極限，獲取了前所未有（yǒu）的高清晰度原子（zǐ）圖（tú）像。 　　橡樹山實驗室的工（gōng）作人員表示，獲取單個原子的三維立體圖像將是他們的下一個目標。