美國家技術標準（zhǔn）研究院（yuàn）（NIST）近日發布消（xiāo）息聲（shēng）稱，該機構研究人（rén）員（yuán）利用兩種新（xīn）技術，首次以納米級精度檢（jiǎn）測了廣（guǎng）泛使用的（de）太陽能電池的化學成分及缺陷的變化。新技術檢測了用碲化鎘半導體材（cái）料製造的常見（jiàn）太陽能電池，有望幫助科學家更好地了解太陽能電池的（de）微觀（guān）結（jié）構，並可能（néng）提出進一步提高太陽能光（guāng）電轉化效率的方法。

    在研究中，NIST科學家利用兩種依賴原子力顯微鏡（AFM）的（de）輔助（zhù）方法，通過（guò）光誘導共振（PTIR）來測量太陽能電池樣品從可見光到中紅（hóng）外線的寬波長範圍吸收光的數量，從（cóng）而在納米級尺度得（dé）到太陽能電池的構成及其缺陷（xiàn）。另一項技術，被稱為掃描近場光學顯微鏡（dt-NSOM），通過記錄特定位置傳輸光的（de）數量來捕捉太陽（yáng）能電池的組成及（jí）缺陷的變（biàn）化，從而形成詳細的納米尺度圖（tú）像。
   
    實驗表明，材（cái）料晶（jīng）體排列（liè）的缺陷與其化學構成（chéng）中的雜質相關，新（xīn）技術能檢測（cè）碲化鎘樣品（pǐn）中所謂的深層次缺陷的空間變化（huà）。這些缺（quē）陷（xiàn）引起碲化鎘與其它半導體中的電子和質子（帶正電荷的顆粒）重新組合而不是發電（diàn），這是導致太陽能電池（chí）無法取得理論成效的關鍵原因之一。

    該研究成果具有廣泛適用性，將有助（zhù）於太陽能電池研究，更好（hǎo）地了（le）解各種光伏材料。該研究成果發（fā）表在2017年4月12日的《Nanoscale》雜誌上（shàng）。