美國材料試驗協會（ASTM）自（zì）2008年開始的一項納米（mǐ）技術標準修訂工作，日前結束。

      這（zhè）項標（biāo）準（zhǔn）的（de）編號為ASTM E2490，內容為用光關聯能譜法（PCS）測定懸浮狀（zhuàng）態下納米材（cái）料的粒徑分布方法指南。PCS是動態光散射法或準彈性光（guāng）散射法（fǎ）。這項技術通常用於小於（yú）100納（nà）米，特別是小於1納米的極微小顆粒的測定。

      這項修訂（dìng）工作動用了26間實驗室，共完成了7700次測（cè）量數據。為了確保修訂工作的順利進行（háng），美國國家標準研究所和國家癌症研究所均（jun1）參與了這些實驗室研究工作。ASTM納米技術國際委（wěi）員會下設的納米粒子物理、化學和毒性表征分委員會負責（zé）該標準的製（zhì）訂與修訂工作。