安捷（jié）倫科技有限公司宣布，該公司對（duì）外推出一款波形（xíng）發生器/快速測量（liàng）單元(WGFMU)，用於（yú）其B1500A半導體設備分析儀。這種分析儀能執行高速測量所需求的性能，及快速表征負偏壓溫度不穩定性(NBTI)及其它諸如脈（mò）衝製的IV、RTS和新型非揮發性抗幹擾（rǎo）的內存像 PRAM/ReRAM等方麵的應用。

       此次（cì）推出的（de）安捷倫B1530A WGFMU產品在設計上，是（shì）針對研（yán）究（jiū）員和可靠性研究的工程師的應用而言。安（ān）捷倫B1530A WGFMU是第一款（kuǎn）自備齊全的模塊，它用於提供隨機線性波發生器(ALWG)與電流或電壓同步（bù）的快速測量，速度快達5ns，使（shǐ）其能夠提供高速（sù）IV特（tè）性。該性能解決了超高速（sù）負偏壓溫度不穩定性的特性和大（dà）量擺在工程師和（hé）科學家（jiā）們麵前的（de）下一代半導體設備的其它應用問題。

       另外，作為半（bàn）導體元（yuán）器件幾何尺寸收縮起來能低於65nm，由（yóu）於是新材料、新結構和更（gèng）高IC操作溫度，使設備可靠性變得非常重要。在負（fù）偏壓和高溫情況下，負偏壓溫度不穩（wěn）定性尤其引（yǐn）起重大的閾值電（diàn）壓漂移，使其成為關係高級半導體過程非常重要的可靠性因素之一。許多（duō）負偏壓溫度不穩定性研究表明，測（cè）量的閾值電壓漂移取決於壓和時間。因此，工程師們必須盡可能快的估測晶體管的特性。此外，由於壓力的類型也會影響閾值電壓降級和設（shè）備的實（shí）時估計（jì），測量都不僅需要在直流壓力之（zhī）後，還要求（qiú）在各種交流壓力後進（jìn）行。