美國（guó）國家儀器有限公司（National Instruments, 簡稱NI）宣布（bù）正式發布其第一款基於PXI的源測量單元（source measure unit，SMU）和業界最高密度（dù）的PXI開關模塊。這兩款產品將PXI平台（tái）的應用延伸至高精密度直流測試（shì）領域，如半導體參數測（cè）試及電（diàn）子設備器件的驗證。工程師們可（kě）以同時使用這兩款模塊在多管腳設備上掃描電壓和電流的特征參數，相比傳統的方式，具有輕便小巧、性價比高的（de）優點。

      NI PXI-4130源測量單元（yuán）是一款可編程、靈（líng）活、高功率且適合高精度直流測試應用的3U PXI模塊。其相互隔離的SMU通道，可（kě）提供包（bāo）含4線遙感的四（sì）象限±20 V輸出。該通道在象限I和象限（xiàn）III中的源極功率高達40W，在象限II和象限IV中的漏極功率高達10W。NI PXI-4130電（diàn）源測試單元還有（yǒu）一個額（é）外的電壓、電（diàn）流（liú）輸出/測試通道，並在一個單槽的PXI模塊上實現了（le）電源功能。鑒於共有5個可電流範圍提供達1 nA的測量（liàng）分（fèn）辨率，因此PXI-4130非常適用於需要編程實現（xiàn）掃描源（電壓/電流）並且測（cè）試其參數的（de）場合，比如在高精度的測試驗證（zhèng）以及半導體測試（shì）領域，。

      "很高興看到模擬技術的發展和基於（yú）FPGA架構的應用可以實現在如此之小的體積上發揮出卓越的性能" NI測（cè）量技術總（zǒng）監Ken Reindel這樣說道。 "NI PXI-4130源測（cè）量單元是一個在高精度、高功率和（hé）小體積（jī）特（tè）性上的典範，讓工程師（shī）可以在新的應用領域享有PXI平台帶來的種種優勢" 。

      NI PXI-2535和NI PXI-2536超高密度模塊可提供（gòng）544交叉點??可在單槽、3U PXI模塊上實現最大的矩陣密度。NI PXI－2535和（hé）NI PXI－2536分別配置為4x136 1線（xiàn）式矩（jǔ）陣（zhèn）和8x68 1線式矩陣。兩款模塊（kuài）都是建立在場效應晶體管（field effect transistor，FET）技術之上，該技術帶來諸多優勢，包括：無限機械壽命、無限同步連接以及高達（dá）50,000次/秒的切換速度。這些優勢使這兩款產（chǎn）品非常適合在批量生產設備（如：半導體芯片和印刷電路板）的驗證測試中來切換低功率的直流信號。兩款新產品與NI Switch utive開關管理軟件同（tóng）時使用（yòng）還能幫助工程師們實現的簡化配置和代碼重用。

      NI PXI-4130電源測試（shì）單元和兩款高密度開關模塊豐富了現有的PXI儀器平台，並可幫助工程師們進行半導體原件驗證相關測試，包括高速數字設備、混合信號（hào）儀器及（jí）射頻設備。當在一個PXI係統中同時使（shǐ）用這些設備，它們可（kě）以提供（gòng）高度（dù）靈活的解決方案，無論是半導（dǎo）體結構和功（gōng）能驗證測試還是電（diàn）子元件特征測試。這3款產品均對NI TestStand測試管理軟件、NI LabVIEW圖形化開（kāi）發環境、NI
Signalexpress、NI LabWindows ?/CVI和NI Measurement Studio提供支持。

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