7月18日，專（zhuān）門用（yòng）於3D層析成像（xiàng）和納米技術（shù）應用的超高分辨（biàn）率X射線成像係統（tǒng）開發商Xradia宣（xuān）布，該公司生產的一台硬X射線納（nà）米（mǐ）探針儀已運（yùn）往美國阿貢國家實驗室，據稱，這台儀器是Xradia公司與阿（ā）貢實驗室納米（mǐ）材料中心（CNM）共同（tóng）建造的。硬X射線納米探針（NPI）獲得（dé）的分辨率超過30nm ，采用掃描探針和全場傳遞X射（shè）線顯微鏡，用於元素和物質結（jié）構分析（xī）。這台NPI安裝在阿貢（gòng）APS（Advanced Photon Source）硬X射線納米（mǐ）探針（zhēn）束（ID-26）上。

　　高分辨率X射線顯微鏡在科學（xué）研究及眾多工業領域的作用越來越重要，這些領域包括替代（dài）能源、半導體研製、生物技術、生命科學及納米技術（shù）和（hé）先進材料等。X射（shè）線具有的無損穿透性和具有高分辨率顯微鏡功能的（de）X射線光學儀的結合，將為研究（jiū）人員和工程師對物質內部結構和屬性的認識達到前所（suǒ）未有的水（shuǐ）平。

　　阿貢實驗室納米材料中心主任Eric Isaacs博士稱NPI將對納米材料（liào）的設（shè）計產生革命性的影響。該實驗室首席研究員Jorg Maser也對Xradia公司建造這種裝備的能力（lì）表示了讚譽（yù）。