近日，廈門市計量院聯合華僑大學、天（tiān）馬微電子有限公司共同研究的課（kè）題“麵向顯示屏（píng）的（de）多光譜智能檢測關鍵技術及（jí）應（yīng）用”獲2021年度福（fú）建省科技進步三（sān）等獎（jiǎng）。這是廈門市計量院深化產學研用合作機製取得的又一項新（xīn）成果。
隨（suí）著OLED、Mini LED和（hé）Micro LED等新型顯示技（jì）術（shù）的廣泛應用，新顯示產品對工（gōng）藝過程中的質量（liàng）管控（kòng）要求愈加嚴格。目前（qián）現有（yǒu）的顯示（shì）屏質量檢測技術大多隻能（néng）檢測顯示屏（píng）表（biǎo）麵的外形尺寸、缺（quē）陷等二維橫向（xiàng）信息,而顯示屏透（tòu）明且具有多層模組的特點致使現有檢測技（jì）術難以獲得完整的產（chǎn）品質量數據。該課題突（tū）破（pò）現有顯示屏技術瓶頸，針對顯示屏內部劃痕、斷（duàn）裂、凹陷等瑕疵深度檢測（cè）難點，研（yán）究高效多光譜智能檢測技（jì）術，並將其應用於產品產線製造和品質檢測中，有力加強了顯示產業產品質量控製，提升了產品出廠良（liáng）率。
在該課題中，市計量院發揮計量技術優（yōu）勢，開展了多光譜檢測技術量值標定方案設計，開（kāi）發了量值標定、迭代和（hé）插值算法，承（chéng）擔完成的“在線式CCD圖（tú）像尺寸測量係統量值傳遞溯源方法研究” “智（zhì）慧計量管理係統開發”項目（mù）以（yǐ）及多項發明專利成果實現了顯示屏關鍵質量參數檢測的智（zhì）能化、數（shù）字化、在線化、完整化，目前相關技術已應用（yòng）在天馬微電子等多家（jiā）顯示企業產線上，成（chéng）功解決了顯示產（chǎn）業（yè）關鍵計量測（cè）試和質量數據分析技術難題，促進顯示屏產（chǎn）業升級轉型（xíng）和（hé）攻堅新藍海。
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